Testador de Circuitos Integrados

Chegou o Testador de CI do Victor Trucco que mencionei em postagem anterior.

O gabinete é feito de placas de acrílico cinza encaixadas por fendas e entalhes e afixadas com parafusos e porcas. O design é interessante, ficou parecendo um equipamento de uso industrial. Na parte frontal há um mostrador LCD iluminado, um soquete ZIF, um LED indicador e 3 botões. Logo ao ser ligado, é mostrada uma mensagem e o aparelho é inicializado; enquanto o LED estiver aceso, nenhum CI deve ser colocado no soquete.

As fotos acima mostram outras vistas do testador, em que se pode ver o interruptor liga-desliga para a bateria interna de 9 V que provê portabilidade. Há ainda uma entrada P4 para fonte externa de 12 V×1 A, cujo uso é aconselhável se for testar DRAM com consumo elétrico elevado (vide adiante).

O uso é relativamente simples: com os botões da esquerda ou direita, seleciona-se o tipo do CI a ser testado. A seguir, quando o LED estiver apagado, insere-se o componente no soquete ZIF com a marca do pino 1 (um ponto e/ou um chanfro em meia lua) direcionado para cima.

O posicionamento no soquete depende do CI, mas quando não há indicação no mostrador, deve ser encaixado o mais para baixo possível (note na foto que as fileiras superiores do soquete ficaram vazias).

Para iniciar o teste, deve-se apertar o botão central; o LED fica brevemente aceso e apaga-se em seguida, acusando o término da operação. O mostrador exibe o resultado que, felizmente, era de um componente em perfeito estado.

Fiz o mesmo teste no 61C64 retirado de um velho 386 e o resultado foi OK. Este CI é uma SRAM cache retirada de um micro 386 que, do ponto de vista da lógica do testador, é compatível com 6264. Isso não quer dizer que os dois CI são operacionalmente compatíveis, isto é, que são intercambiáveis num equipamento real. O mesmo vale para outros tipos de CI, podem ser testados sob um mesmo código exibido no mostrador, porém podem ter diferentes parâmetros (tipo de lógica, níveis de tensão lógica, tecnologia bipolar/CMOS, tempo de acesso, etc). Sendo assim, o fato de passar num mesmo teste não significa que são equivalentes.

O teste de RAM dinâmica (DRAM) é o que requer um tempo maior para se completar. No caso da DRAM tipo 4116/5290 de 16384 bits (empregada na RAM baixa de algumas versões de TK90X), tensões de alimentações extras são necessárias. Como a aplicação de tais tensões em outros componentes poderá levar a danos, quando se aperta o botão central é feito uma pergunta de que se realmente isto que se deseja; para confirmar, deve-se pressionar o mesmo botão novamente e o teste se inicia. Certifique-se de que somente DRAM do tipo 4116/5290 seja testada nessa modalidade. Como a geração das tensões extras aumenta o consumo exaurindo a bateria interna, recomenda-se usar uma fonte externa neste caso.

Para circuitos lógicos com pinagem padrão TTL 74XX, o mostrador exibe a mensagem "(3)" que adverte que o posicionamento do CI é diferente, isto é, deve ser inserido com os pinos a partir da 3ª fileira contada a partir da posição superior. A marca do pino 1 deve ser direcionada para cima.

Ao acionar o botão central, o número de identificação do CI TTL é mostrado (no exemplo, um 74LS260 que é empregada na Multiface 1). O aparelho não só testa o estado do componente como ainda o identifica.

O mesmo ocorre com a série CMOS 40XX (note a posição do CI no soquete). O teste identificou corretamente o CI 4000 (o primeiro desta série lógica, de uso pouco comum nos projetos) e mostrou que está OK. Há ainda a opção para série CMOS 45xx e, embora eu não tenha tirado fotos, consegui testar um 4511 corretamente.

Estes testes só checam a lógica dos CI, isto é, comparam as suas respostas com tabelas verdades. Sendo assim, sob a modalidade 74XX, podem ser testadas as subfamílias 74L, 74F, 74S, 74LS, 74AS, 74ALS, 74C, 74FC, 74H, 74HC, 74HCT, 74AC, 74ACT e 74AHC. Por outro lado componentes HC ou HCT com pinagem da série 4000 só são corretamente identificados no modo 40XX ao invés de 74XX (exemplos: 74HC4020, 74HC4066, 74HCT4066, 74HC4017).

Concluindo, o Testador de CI possui características superiores a de equipamentos comerciais e torna-se um valioso aliado para manutenção de computadores clássicos.