quarta-feira, 6 de fevereiro de 2013

Extração semi-automática dados de ROM a partir de micrografia

Notícia que vi no Slashdot, foi lançada ferramenta para auxiliar a extração de dados de ROM de forma semi-automática. Remover o invólucro de um circuito integrado, expor a pastilha de silício e analisar o circuito não é uma novidade, mas tem sido uma atividade extremamente trabalhosa por ser feito manualmente.

ROM do TK90X

Eu acho que a escolha recaiu em uma ROM (Atmel MARC4) por ser mais fácil de analisar, pois este tipo de circuito é formado por uma grade periódica de bits 0 e 1.

A imagem de micrografia da pastilha é então submetida modificações e, ao invés de ser submetida a um software de reconhecimento automático de padrões, é tratada com uma ferramenta que faz o reconhecimento das áreas selecionadas pelo operador. A ferramenta criada para essa análise semi-automática chama-se rompar. Mais detalhes sobre este processo encontra-se neste link.

Ainda está longe de ser um analisador de circuitos integrados mais complexos, com a ULA do TK90X, mas é um importante avanço para isso se materializar.

Alguém pode se questionar se há algum sentido ainda em tentar destrinchar a ULA, se ela já foi clonada. Eu acredito que sim, pois o clone é um modelo que tenta mimetizar o melhor possível o comportamento do circuito original mas, dada a complexidade do sistema, é pouco provável que as organizações internas sejam exatamente iguais entre si. Portanto a análise da pastilha ainda seria interessante, visando um conhecimento completo da estrutura interna da ULA.

ULA do TK90X

2 comentários:

  1. Flávio, lembrando que já mandamos uma ULA para china, para tentarem este processo e não deu certo, infelizmente...

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    1. É verdade...

      Mas se não me engano, foi enviada uma ULA queimada, que não estava funcionando. Talvez se fosse um componente funcional, a chance de sucesso poderia ter sido maior.

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